SXJS-IV介損測試儀*
SXJS-IV介損測試儀*,是一種測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。
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更新日期
2024-05-27 - 02
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生產廠家 - 03
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產品分類 / PRODUCT
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